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影响光纤熔接损耗的主要因素

1.光纤本征因素是指光纤自身因素，主要有四点。sc光纤跳线

（1）光纤模场直径不一致；

（2）两根光纤芯径失配；

（3）纤芯截面不圆；

（4）纤芯与包层同心度不佳。

2．影响光纤接续损耗的非本征因素即接续技术。

3．其他因素的影响。接续人员操作水平、操作步骤、盘纤工艺水平、熔接机中电极清洁程度、熔接参数设置、工作环境清洁程度等均会影响到熔接损耗的值。sc光纤跳线

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光纤布线系统的一些测试方法

方法一：

在准确度要求不高的工程测试环境下，sc光纤跳线生产厂，通常采用方法一测试光纤链路。为了排除测试跳线的 衰减，测试前***行归零设置，sc光纤跳线厂商，然后把测试跳线接入被测光纤链路，测试被测光纤链路的衰减。sc光纤跳线

方法一的归零设置时，除了包括两根测试跳线还包括一个连接用的耦合器，因此实际测得的衰减值等于是被测光纤本身和另一个连接用耦合器的衰减。sc光纤跳线

综上所述，方法一仅适用于光纤链路距离较长的情况。当光纤链路距离较短时，归零设置时 扣除的光纤耦合器衰减所占比例较大，无法忽略，因此不建议使用方法一。

方法二：

由于测试方法一的准确度不高，因此进行了调整、改进。改进后的方法简称方法二，具体如下：

先根据方法一进行归类设置，sc光纤跳线，再根据图 3 将被测光纤和补偿跳线接入进行测试，此时所测得衰减数值包括①被测光纤的衰减、②两个被测连接器的衰减、③补偿光纤的衰减。鉴于补偿光纤长度很短，因此补偿光纤的衰减相对整个光纤链路的衰减来说可以忽略不计。和方法 一相比较来说，方法二对光衰减的测试值准确度更高。

方法三

实际情况下会有仅测试光纤跳线光衰减的需求， 因此我们还设计了方法三，具体如下：

先用光纤短跳线归零设置，随后测试被测光纤跳线，如图4所示。此方法需要考虑测试设备的连接端口和被测光纤端口的匹配问题，在测试短距离光纤时准确度不高。sc光纤跳线

方法四

选用方法三会导致测试设备的连接端口损耗过大，因此产生了改进后的测试方法四。此方法 适用于数量较多的光纤测试，具体如下：

先用测试 跳线、归零耦合器、归零跳线设置归零，然后接入被测光纤进行测试。

测试方法四也经常用于光纤信道测试，即包含光纤链路以及两端光纤跳线。

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光纤跳线中FC﹨ST﹨SC﹨LC﹨MTRJPC﹨APC﹨UPC各代表什么？

FC、ST、SC、LC、MTRJ是物理接口连接方式不同。

FC是圆形螺旋口。

ST是圆形45度卡口。

SC是方型插口。

LC和MTRJ是小插芯连接口，在国内用的比较少，但是部分进口设备上带。

PC、APC、UPC代表陶瓷插芯的前端面结构！

PC是球面结构，APC是斜8度角结构，UPC是超平面结构。

多模光缆的连接距离要短的多，sc光纤跳线供货商，是300米或500米（主要看激光的不同，产生短波长激光的光源一般有两种，一种是62.5的，一种是50的）sc光纤跳线

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